TESA MICRO-HITE 高度規可以用來進行平麵、平行麵和圓柱麵幾何體的內尺寸、外尺寸、高度、深度或距離尺寸測量。同時可以進行一維或二維的測量。TESA IG-13 數字式測頭可以測量垂直度、直線度、平行度等偏差和跳動誤差，並以ISO1101標準輸出數據。在電子測高儀上20 年的製造經驗造就了高品質的設計，代表了當今的技術水平的發展；

TESA MICRO-HITE 高度規生產(chan) 現場檢測的理想工具，在工作區沒有任何電纜；快速簡單可靠測量，尤其是工件孔類；
TESA MICRO-HITE 高度規有365、615 和920 mm三種量程供您選擇；
•TESA MICRO-HITE 高度規顯示的分辨率為(wei) 0.0005, 0.001, 0.01 和0.1mm或轉換為(wei) 相等的英製單位；
•TESA MICRO-HITE 高度規通過計算機輔助精度（CAA）自動修正偏移誤差可以極準確測量長度、直線度TESA MICRO-HITE 高度規和垂直度；
•具有和鋼一樣的膨脹係數（11.5×10-6k-1）；
•TESA MICRO-HITE 高度規控製麵板˜ID˜ 和˜power panel˜ 通過交互式的數據處理和輸出，可以引導操作者的操作；
•TESA MICRO-HITE 高度規無須人工計算,可以通過編寫(xie) 程序循環測量99 個(ge) 工件，每個(ge) 測量循環包含相關(guan) 尺寸極限值的64 個(ge) 指標；
•TESA MICRO-HITE 高度規內(nei) 置打印機用於(yu) 數據輸出或利用外部打印機以A4 紙打印, RS 232 數據輸出；
•TESA MICRO-HITE 高度規每台測高儀(yi) 帶有SCS 校準證明；
•TESA MICRO-HITE 高度規堅固鍍鎳基座包括三個(ge) 支撐點和經過精研；
•TESA MICRO-HITE 高度規氣墊用來在平板上方便地移動測高儀(yi) ；
•TESA MICRO-HITE 高度規增量式玻璃光柵具有參考點，分度間隔20 µm。光電數值捕捉（TESA ） ；
•TESA MICRO-HITE 高度規測量頭安裝在球形軸承上，通過花輪和曲柄的方法進行移動。驅動係統可以鎖定和上緊。可附加微調裝置（選項）。用恒定的測量力進行自動數值捕捉。圖像或聲音信號進行應答； 

型號規格		TESA Micro-Hite
		350	600	900
訂貨號		00730033	00730034	00730035
測量範圍	mm	365	615	920
大允許誤差（帶標準附件）		（2+3L）μm,（L單位為(wei) 米/L in m）
重複性（帶標準附件）		2s≤1μm
運動速度		300 mm/s
測量力		1.6N
機械垂直度	μm	<7	<9	<11
主機重量	kg	33	38	45